 |
邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
11
聯(lián)系電話
|
邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
聯(lián)系電話
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
|---|---|---|---|---|
|
SE200BM，SE300BM和SE500BM光譜橢偏儀帶自動監(jiān)測 簡單介紹：橢圓偏振光譜（SE）是一種成熟的光學(xué)技術(shù)，用于以非破壞性和非接觸方式表征塊狀材料，薄膜，涂層，表面層和嵌入層。對于常規(guī)和晶圓廠加工質(zhì)量控制，必須有一個自動盒式裝卸機(jī)。為此，我們開發(fā)了一種低成本解決方案，可將晶圓尺寸從2“擴(kuò)展到8"（臺式），將塔式尺寸擴(kuò)展到12“。用戶甚至可以為每個插槽定義配方，從而為整個盒式磁帶測量定義配方。 產(chǎn)品型號：SE200BM，SE300BM和SE500BM 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
|
SE-SOLAR光伏光譜橢偏儀 簡單介紹：橢圓偏振光譜儀SE-Solar專為光伏（PV）應(yīng)用而設(shè)計。它可以配置為覆蓋DUV到NIR范圍，可以使用手動測角儀以5度間隔改變?nèi)肷浣牵部梢耘渲脼樽詣訙y角儀，分辨率為0.001度。基于陣列的檢測設(shè)置可為用戶提供快速測量，每個數(shù)據(jù)只需幾秒鐘。當(dāng)需要映射或?qū)崟r原位測量時，這是所有SE模型中的*選擇。 產(chǎn)品型號：SE-SOLAR 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
|
SE-MSP光譜橢偏儀顯微分光光度計 簡單介紹：對于某些應(yīng)用（例如MEMS或半導(dǎo)體產(chǎn)品晶圓上的功能），希望有一個小的探測點。將顯微分光光度計與橢圓偏振光度計集成在一起后，工具的功能將大大擴(kuò)展。可通過橢圓偏振光度法在超薄膜上工作，并且還具有通過微反射法與橢圓度計和微分光光度計相結(jié)合的*配置的小面積微反射法。 產(chǎn)品型號：SE-MSP 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
|
TFProbe IRSE紅外光譜橢偏儀IRSE 簡單介紹：紅外光譜橢圓儀（IRSE）可以表征材料的結(jié)構(gòu)（厚度，界面，表面粗糙度，污染），光學(xué)（光學(xué)常數(shù)），電（導(dǎo)電性）以及化學(xué)信息。 產(chǎn)品型號：TFProbe IRSE 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
|
SE200/SE300/SE350/SE500光譜橢偏儀 DUV-VIS-NIR 簡單介紹：光譜橢偏儀可配置從DUV到NIR的波長范圍。DUV范圍可用于測量超薄膜，如納米厚度范圍。比如硅晶片上的原生氧化物，其通常僅為約1至2nm厚。當(dāng)用戶需要測量許多材料的帶隙時，深紫外光譜橢偏儀也是*的。可見或近紅外范圍用于測量相對厚或非常厚的涂層。 產(chǎn)品型號：SE200/SE300/SE350/SE500 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | ||
